芯片測試座是一種用于測試電子元件的裝置，是芯片測試工具的重要組成部分，它可以定位、支持和連接芯片。一般情況下，芯片測試座由支架、接觸器（探針）和支撐片組成。它可以用于測試集成電路（IC）或單片機(jī)（MCU），以保證其功能性能和可靠性。
      芯片測試座的應(yīng)用：

用于芯片的功能測試：芯片測試座可以用于測試IC或MCU的功能，如數(shù)據(jù)存取、運(yùn)算能力、時(shí)序特性、抗干擾能力等，以確保其正常工作。  用于芯片的可靠性測試：芯片測試座可以用于測試IC或MCU的可靠性，如低溫、高溫、高濕度及沖擊、沖擊、振動(dòng)等，以確保其可靠性。

用于芯片的焊接測試：芯片測試座可以用于測試IC或MCU的焊接，如焊接點(diǎn)的位置、焊點(diǎn)的長度、焊點(diǎn)的質(zhì)量、焊點(diǎn)的控制等，以確保其工藝性能。